BS QC 750112-1988 电子元器件质量评估协调体系.空白详细规范.半导体器件.分立器件.场效应晶体管.功率达5W和1GHz的单栅场效应晶体管空白详细规范
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时间:2024-05-16 14:20:05
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【英文标准名称】:Specificationforharmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Blankdetailspecification-Semiconductordevices-Discretedevices-Field-effecttransistors-Blankdetailspecificationforsingle-gatefield-effecttransistors,up
【原文标准名称】:电子元器件质量评估协调体系.空白详细规范.半导体器件.分立器件.场效应晶体管.功率达5W和1GHz的单栅场效应晶体管空白详细规范
【标准号】:BSQC750112-1988
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1988-12-15
【实施或试行日期】:1988-12-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;电子设备及元件;认可试验;试验条件;质量保证体系;性能;质量评估;质量评估;资格鉴定;试验设备;详细规范;电气试验;评估的质量;检验;电路;晶体管;单结晶体管;场效应晶体管
【英文主题词】:Assessmentlevel;Barrierlayers;Components;Definition;Definitions;Detailspecification;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Field-effecttransistors;Inspection;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Marking;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicalproperties;Properties;Qualityassessmentprocedures;Qualityassessmentsystems;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Symbols;Transistors
【摘要】:
【中国标准分类号】:L44
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:20P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:电子元器件质量评估协调体系.空白详细规范.半导体器件.分立器件.场效应晶体管.功率达5W和1GHz的单栅场效应晶体管空白详细规范
【标准号】:BSQC750112-1988
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1988-12-15
【实施或试行日期】:1988-12-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;电子设备及元件;认可试验;试验条件;质量保证体系;性能;质量评估;质量评估;资格鉴定;试验设备;详细规范;电气试验;评估的质量;检验;电路;晶体管;单结晶体管;场效应晶体管
【英文主题词】:Assessmentlevel;Barrierlayers;Components;Definition;Definitions;Detailspecification;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Field-effecttransistors;Inspection;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Marking;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicalproperties;Properties;Qualityassessmentprocedures;Qualityassessmentsystems;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Symbols;Transistors
【摘要】:
【中国标准分类号】:L44
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:20P;A4
【正文语种】:英语
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