GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
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时间:2024-05-29 09:45:26
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基本信息
| 标准名称： | 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） |
| 英文名称： | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体分立器件综合 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2012-11-05 |
| 实施日期： | 2013-02-15 |
| 首发日期： | 2012-11-05 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 工业和信息化部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2013-02-15 |
适用范围
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前言
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目录
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所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体分立器件综合
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